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    二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀

    簡要描述:二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀中采用了7700x中一些經典成熟的技術,如高鹽樣品進樣系統(HMI)和氦氣碰撞模式,而且7800 ICP-MS 的動態線性范圍要比7700x 高一個數量級。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:經銷商
    • 更新時間:2020-09-17
    • 訪  問  量:922

    詳細介紹

    二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀中采用了7700x中一些經典成熟的技術,如高鹽樣品進樣系統(HMI)和氦氣碰撞模式,而且7800 ICP-MS 的動態線性范圍要比7700x 高一個數量級。氦氣碰撞模式已經被證實是應對復雜樣品基體干擾的更可靠方法,它能排除所有的多原子離子干擾,尤其是在因樣品組成復雜而無法預知的多原子離子干擾的情況下。7800 ICP-MS 還采用了7900 ICP-MS的核心技術,如第四代快速氣體切換技術ORS4、新型正交檢測器系統(ODS)、集成樣品引入系統 (ISIS 3)、MassHunter4.2軟件等,MassHunter4.2軟件中還設有方法向導、預設方法等。

     二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀

    性能指標:(所有指標須在同一條件下測定)

    低質量數靈敏度:7Li≥50Mcps/ppm

    中質量數靈敏度:89Y≥200Mcps/ppm

    高質量數靈敏度:205Tl≥250Mcps/ppm或238U≥300Mcps/ppm

    低質量數檢測限:9Be≤0.2ppt

    中質量數檢測限:115In≤0.08ppt

    高質量數檢測限:209Bi≤0.08ppt

    背景:≤1.0cps(在質量數9amu處實測背景)

    氧化物產率(CeO+/Ce+):≤1.6%

    雙電荷產率(Ce2+/Ce+):≤3.0%

    短期穩定性(RSD):≤2%(20min)(須在1ppb標準溶液中測定)

    長期穩定性(RSD):≤3%(2hrs)(須在1ppb標準溶液中測定)

    滿足亞ppt級到百分級濃度測定,在同一次運行中同時測定痕量與常量元素

     二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀

    二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質譜儀應用能力

    食品中痕量元素分析能力:由于食品樣品種類多、基體復雜,國家標準對重金屬元素檢出限要求高,要求在無須使用如CH4或H2或O2氣等反應模式下,可通過He碰撞模式直接將干擾*消除,檢出限必須達到As≤10ppt,Cr≤4ppt,Cu≤0.1ppb,Al≤0.5ppb,標準模式下測定,檢出限必須達到Pb≤2ppt,Ba≤2ppt,Sn≤3ppt,Cd≤1ppt,Sb≤1ppt;

    水質樣品檢出限要求:在水質樣品多元素分析中,一次分析不少于26種元素,獲得9Be與11B的DL≤6.0ppt,56Fe與78Se的DL≤20ppt,202Hg的DL≤2.0ppb;

    液相聯機:商品化的聯機硬件接口及控制軟件,ICP-MS工作站軟件可同時控制ICP-MS和同品牌液相色譜聯機測試,實現1臺電腦、1套軟件即可完成聯機數據采集和分析;

    聯機指標:甲基Hg,乙基Hg,無機Hg2+(以Hg計各100ppt)的混合形態標準溶液用HPLC-ICP-MS系統在10分鐘內可以達到*分離,并得出積分峰面積和保留時間等信息,各個Hg形態峰的信噪比S/N>3。

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